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    低溫低濕試驗箱

    名稱(chēng): 低溫低濕試驗箱 型號: ITM-LHC-408L 產(chǎn)品用途:可模擬產(chǎn)品在一般氣候環(huán)境溫濕組合條件下(高低溫操作&儲存、溫度循環(huán)、高溫高濕、結露試驗)的測試去檢測產(chǎn)品本身的適應能力與特性是否改變,更可以針對產(chǎn)品在低溫低濕、高溫低濕、高溫高濕降到低溫低濕..等環(huán)境下是否會(huì )發(fā)生龜裂、破損,另外在低濕環(huán)境下空氣靜電量數倍于一般環(huán)境,據悉大部分電子零部件損壞是由靜電所引起的。
    低溫低濕試驗箱
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    • 功能介紹
    • 配件
    • 操作視頻

    低濕恒溫恒濕試驗箱
    產(chǎn)品用途:
    低溫低濕試驗箱可模擬產(chǎn)品在一般氣候環(huán)境溫濕組合條件下(高低溫操作&儲存、溫度循環(huán)、高溫高濕、結露試驗)的測試去檢測產(chǎn)品本身的適應能力與特性是否改變,更可以針對產(chǎn)品在低溫低濕、高溫低濕、高溫高濕降到低溫低濕..等環(huán)境下是否會(huì )發(fā)生龜裂、破損,另外在低濕環(huán)境下空氣靜電量數倍于一般環(huán)境,據悉大部分電子零部件損壞是由靜電所引起的。


    測試規范:
    可執行規范所要求之結露與不結露試驗條件。
    執行待測品不結露試驗溫濕度同步斜率控制技術(shù)。
    可執行結露試驗前的干燥階段試驗條件。


    恒溫恒濕試驗箱試驗條件:

    5%RH:10℃/5%RH 、20℃/5%RH、50℃/5%RH
    10%RH:10℃/10%RH、15℃/10%RH、25℃/10%RH、30℃/10%RH、65℃/10%RH
    15%RH:10℃/15%RH
    20%RH:20℃/20%RH、85℃/20%RH、75℃/20%RH、65℃/20%RH
    40%RH:25℃/40%RH
    90%RH:65℃/90%RH
    技術(shù)參數:
    型號 ITM-LHC-408L ITM-LHC-800L
    箱內尺寸 W800 mmxH850 mmxD600 mm W1000×H1000×D800mm
    外箱尺寸 W1000mmxH1950mmxD1900mm W1200xH1900xD2100mm
    電源 AC380V 5Ø 10kW AC380V 5Ø 12kW
    濕度范圍 5 ~ 98 %
                溫度分布均勻度             ±1.0℃(-40℃~100℃) /±1.5℃(-40.0℃~-70℃,100.0℃~150℃)
    濕度分布均勻度 ±5 %RH(中心點(diǎn))
    溫度穩定度 ± 0.2  ℃
    濕度穩定度 ±2 %RH
    溫度分辨率 ± 0.01  ℃
    濕度分辨率 ± 0.1 %
    升溫時(shí)間 從25℃升至150℃ 45分鐘,全程平均非線(xiàn)性,空載
    降溫時(shí)間 從20℃降至-40℃ 50分鐘,全程平均非線(xiàn)性,空載
    噪聲 ≤70dB(A)
    滿(mǎn)足試驗標準 GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1:2007)低溫試驗方法.
    GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007)高溫試驗方法.
    GJB150.3-1986 高溫試驗;
    CJB150..4-1986低溫試驗;
    GB/T2423.3-2006(IEC60068-2-78:2007)試驗Cab:恒定濕熱試驗方法;
    GB/T2423.4-2008(IEC60068-2-30:2005)試驗Db:交變濕熱試驗方法;
    GB/T2423.34-2005試驗Z/AD:溫濕組合

     

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